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SEMICON China 2023将于6月29日-7月1日在上海新国际博览中心隆重举行。作为业内领先的半导体测试设备供应商,加速科技一直致力于打造国产化高性价比测试解决方案。展会期间,加速科技将携最新研发的LCD Driver测试机Flex10K-L、高性能数模混合信号测试机ST2500E、ST2500A、ST2500EX等新品亮相此次行业盛会。
展位信息:E5馆 5643号
SEMICON China 2023
国产数字机 测试中国芯
展位号:E5馆 5643号
时间:2023年6月29日-7月1日
地点:上海新国际博览中心(浦东龙阳路2345号)
接下来我们先来剧透一波,看看即将展出的新品都有哪些亮眼之处。
LCD Driver测试机Flex10K-L
6月15日,加速科技正式发布国产大型LCD Driver测试机Flex10K-L,系统采用先进的设计架构,具有领先的测试性能和量产测试能力,可满足LCD、OLED、TDDI、DDI驱动芯片的 CP/FT测试,能有效降低高分辨率屏显驱动芯片的测试成本。产品基于自主研发,具备可扩展、高精度、高速率等多方面优点。
高密度数模混合信号测试系统ST2500E
ST2500E作为一台高密度数模混合信号测试机,通过硬件板卡和软件系统的演进和拓展,不断提高其测试能力和应用范围,在提高测试质量的同时,最大程度上保护用户在设备和技术能力上的投入。在一台ST2500E上可以配置多达16块DFB32板卡,I/O通道数最高支持512通道,512通道PPMU,64通道DPS,根据不同应用场景自由配置不同数量板卡。系统最大可以支持 4 机台级联,64 个功能槽位,最高支持 2048Sites 并测,具有极高的成本优势。
高性能数模混合信号测试系统ST2500A
ST2500A是基于ST2500系列产品扩展的一套不仅能够实现数字信号测试,同时还能满足模拟测试需求的测试系统。该系统具有丰富的板卡资源(DFB32、FOVI50、OTMU、CBIT、SMU20),可以满足各类数模混合高并行测试需求。
高性能数模混合信号测试系统ST2500EX
加速科技推出的高性能数模混合信号测试系统ST2500EX,采用数模混合信号结构,集成数字、模拟信号测试功能,支持1024数字通道配置。硬件结构方面,采用Direct Docking连接方式,在大幅提升晶圆测试稳定性的同时,兼容性更强,可兼容J Type针卡,帮助降低客户转平台治具成本。ST2500EX还具有灵活的可扩展性,为后期扩展混合信号模块、射频模块奠定了良好基础。
多年来,加速科技将不断深耕半导体测试技术领域,持续加大创新研发力度,跟随产业发展潮流,不断推动产品迭代和技术升级,持续为客户提供高性价比测试解决方案。
6月29日-7月1日,上述新品将亮相加速科技E5馆 5643号展位,想了解更多产品信息,请与我们联系。
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http://cgz6bckx.cn.yongzhou.gov.cn/news-99-69947-1.html
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